SunScan 冠层分析系统 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
用途: 通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。 原理: 根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程(Campbell’s Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。 软件计算: Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数(LAI),软件中涉及到的参数有: 直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中,天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的,叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的,其他的参数都是直接测量得出的。 组成: SS1探头:一支1米长,内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器 SunData软件:用来对测量参数进行分析处理 BF5传感器:可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。内置自加热功能,减少雪冻影响。 三角架:用来安放BF5 数据采集终端:一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。 基本技术指标:
产地:英国 |
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